首页 > 检测中心 > 功率器件 > 芯片 >

晶圆静态参数测试

clip_image002.jpg

设备:半导体参数测试仪、探针台B1505ATS2000-HP

厂商:KeysightMPI

用途:

技术指标:

l  进行宽范围的电流/电压测量:达1500A/10KV

l  精确的泄漏电流测量(亚pA能力)

l  精密的导通电阻表征(μΩ分辨率)

l  快至10μs的大功率脉冲测量

l  高压偏置下的中电流测量能力:500mA@1200V

l  进行高电压偏置的CV测量

l  最大直流偏置±3000V

l  高功率圆片探测支持,在圆片上进行>200A10KV的测试

l  真旋钮扫描曲线追踪仪功能

l  支持输出波形监视的示波器观察(I/V)功能

l  可溯源至国际标准的大电流/电压测量

l  可扩展的平台和体系结构,能随需求变化添加测量能力

l  提供4种测试模式:曲线测试模式、应用测试模式、传统测试模式和快速测试模式。可为用户不同的器件测试选择,以最大程度地提高测量灵活性。

l  模块化配置,有10个用于支持模块的插槽

l  多频电容测量单元(MFCMU),频率范围1KHZMHZ

l  适用于封装测试和晶圆测试的标准附件:测试夹块选择器具,模和高压偏置三通


  • 地址:广东省东莞市松山湖国家高新区总部一号12栋5楼

  • 电话:0769-33882377

  • 邮箱:nfjc@jslmnr.com

  • 传真:0769-23078230

0


备案号:粤ICP备2023038869号

首页
电话
邮件
联系