设备：超声波扫描显微镜SONIX ECHO-LS

厂商：SONIX

用途：无损检测电子元器件、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。

测试标准：《IPC/JEDEC J-STD-035 非气密性封装元件的声学显微镜检查方法》、 《IPC/JEDEC J-STD-020 非密闭式固态表面安装组件的湿度/回焊敏感性分类》、《IPC/JEDEC J-STF-020 塑料集成电路SMD的潮湿/回流敏感性分类》

技术指标：

l  频率范围：（1～500）MHz

l  空间分辨率： 0.1μm

l  扫描面积达到：0.25～300mm

l  各种扫描模式：

l  超声波传输时间测量（A扫描）

l  纵向截面成像（B扫描）、

l  X/Y二维成像（C、D、G、X扫描）

l  三维扫描与成像。

l  T-扫描方式：检测透射信号

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